1、All rights reserved by Erwin Ling. 2018/8/22公司徽标过程能力分析均值极差(X-R)控制图双边控制限型 日 期 2002/12/16地 址 工厂 英特尔电子国际集团公司 部 门 QA 过 程 信 息 栏 统计特性描述 数 据 值零 件 零件号 IC-098 零件描述 IC 集成电路 数据重要趋势 X 图 R 图 样本容量 100图纸编号 IC-998-2r3 工程更改水平 Rev.3递增趋势 点数最大长度 3 3 工程规范下限 (LSL) 5.6000模 具 模具编号 MT-098 模 腔 数 8 递 增 链 数 8 11 规格中线 6.0000描述
2、压制IC集成电路模具专用 单位 mm递减趋势 点数最大长度 3 3 工程规范上限 (USL) 6.4000尺 寸 尺寸规格 6.000 上公差 0.400 下公差 0.400 控制限 UCLx 6.235 AVERx 5.973 LCLx 5.711 递 减 链 数 9 11 总和 597.2800下公差限 5.600 规格中线 6.000 上公差限 6.400 UCLr 0.820 AVERr 0.359 LCLr 0.000 超出控制线点数 0 0 读数均值 (X) 5.9728最大值 6.4200最小值 5.5600低于下控制线点数(X) 0高于上控制线点数(X) 0极差均值R 0.35
3、92D2 值 (n=4) 2.0590能力指数上限(CPU) 0.8163能力指数下限 (CPL) 0.7123稳定过程能力指数 (Cp) 0.7643稳定过程能力指数 (Cpk) 0.7123能力比率 (CR) 5.5469标准偏差（n-1) 0.1646标准偏差 (n) 0.1638变异 (n-1) 0.0271变异 (n) 0.0268性能指数 (PP) 0.8099性能比率 (PR) 1.2347性能指数 (Ppk) 0.7548控制图表现： 数据无明显异常，请注意观察其他可能出现的非随即情况。过程能力分析： 过程能力不足!n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
4、 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 251 5.7700 6.0100 5.7100 6.1900 6.4200 5.9200 5.8700 5.8900 5.9600 5.9500 6.1200 5.9500 5.8600 6.1300 5.8000 6.1300 5.8600 5.9500 6.1200 6.0300 6.0300 6.1500 5.7000 6.1700 5.78002 6.2700 6.0400 5.7500 6.1100 6.1300 5.9200 5.6300 5.9100 6.0500 5.9400 6.1800 5.9400 5.
5、8400 5.8000 6.1400 5.8000 5.8400 5.9400 6.1800 5.8900 5.9400 6.3200 6.0800 5.8300 5.75003 5.9300 5.8800 5.9600 5.7400 5.7100 5.7500 5.8000 6.0000 6.2500 6.0700 6.1000 6.0700 6.0800 5.9000 5.5600 5.9000 6.0800 6.0700 6.1000 5.9700 5.9500 5.7500 5.6100 5.7800 5.97004 6.0800 5.9200 6.1900 5.9600 5.9600
6、 6.0500 6.1200 6.2100 5.8900 6.0200 5.9500 6.0000 6.2400 5.9300 6.1700 5.9300 6.2400 6.0000 5.9500 6.0500 5.7800 5.9700 5.8500 5.9500 6.2000均值 6.0125 5.9625 5.9025 6.0000 6.0550 5.9100 5.8550 6.0025 6.0375 5.9950 6.0875 5.9900 6.0050 5.9400 5.9175 5.9400 6.0050 5.9900 6.0875 5.9850 5.9250 6.0475 5.8
7、100 5.9325 5.9250极差 0.5000 0.1600 0.4800 0.4500 0.7100 0.3000 0.4900 0.3200 0.3600 0.1300 0.2300 0.1300 0.4000 0.3300 0.6100 0.3300 0.4000 0.1300 0.2300 0.1600 0.2500 0.5700 0.4700 0.3900 0.4500备注：Erwin Ling/mail to:均 值 ( X- 图 )1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0 2 1 2 2 2
8、3 2 4 2 55 . 4 0 005 . 5 0 005 . 6 0 005 . 7 0 005 . 8 0 005 . 9 0 006 . 0 0 006 . 1 0 006 . 2 0 006 . 3 0 00数 据 点均值D a t a V a lues UCLx LCLx A v e r age X极 差 ( R- 图 )1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 250.00000.10000.20000.30000.40000.50000.60000.70000.80000.9000极 差 值极差
9、R Value UCLr LCLr Average R0391 53 01 8 1 851 10正 态 分 布5.565.675.785.885.996.106.216.316.426.536.64051 01 52 02 53 03 5数 据 区 间频数正 态 分 布 曲 线All rights reserved by Erwin Ling. 2018/8/22使用说明A 原理本过程统计分析工具是根据统计过程控制理论来编制的。详细的原理参见相关的统计过程控制分析理论的书籍或QS9000的SPC统计过程控制手册。B.使用1.分析工具的组数为4组，每组25个样本数，共100个样本容量。2.收集数
10、据的要求根据相关的统计分析原理进行分组、收集相应数据，然后填入数据栏内。3.本分析工具自动绘制均值和极差图，为了得到良好的效果，每次使用时按照样本容量要求收集100个数据进行分析。4.不要将数据栏目中每组的样本数（25）缩小（如20），这样5个样本量将是空的，均值成为0，均值图将自动识别并调整纵坐标并从0开始显示，可能造成控制图显示不平衡，很难看清楚。C.结论1.本分析工具的分析结论给出了点子出界、连续7点在中心线同侧、连续7点上升或下降的结论。2.大量的数据点分布在中心线附近的情况会在备注栏提醒。3.其他的非随机分不情形请分析者根据过程统计分析理论自行分析并控制。D.声明本统计过程控制分析工具是为了方便质量管理工作者进行日常管理使用，或对统计过程控制（SPC)理论感兴趣的人员研究。不得私自拷贝、复制或传播。E.作者令文广 先生（国家注册质量师、国家注册质量管理体系审核员、质量管理资深咨询师、质量管理培训讲师）在使用过程中如果遇到什么疑问或建议请与作者直接联系：Erwin Ling.
