1、SPC X-bar R Chart 教育訓練教材,何謂S.P.C？,S.P.C即為Statistical Process Control (統計制程管理),何謂Q.C.七大手法,特性要因圖 (Characteristic Diagram)直方圖 (Histogram)柏拉圖 (Parato Graph)管制圖 (Q. C. Chart)散布圖 (Scatter Diagram)查檢表 (Check Sheet)層別法 (Stratification),何謂管制圖？,是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的製程能力的管制界限比較，而以時間經過用圖形表示者,大數定律,（1）萬物皆有變化（2）
2、個別事物無法預測 ( 3）在相同情況下的一群事物其趨勢可以預測,何謂正確度、精密度？,正確度群體平均值與目標值之接近程度，叫做正確度。精密度群體數據之分布範圍大小，叫做精密度。,正確度、精密度,預備數据的調查先搜集某一期間的數据作為預備數据,X-R管制圖製作方法,步驟1:搜集數据-搜集100個以上的數据,依 測定時間順序,或群体順序排列.(1)這些數据是最近的數据,并且在技術上可 認為今后的制程不會有多大變化.(2)數据的履歷必須很清楚.如:机器編號,材 料編號,作業員,時段.,步驟2:數据分組-把26個數据做為一組,把 全部數据分為2030組.(1)一組內的數据個數,謂之樣本數,以n表示.(
3、2)組之個數,謂之組數,以k表示.(3)同一組內不要含有異質的數据.通常是以群体順序,或測定時間順序來分組.步驟3: 記入數据表-把數据記入如表2.1.1 的數据表裡.,步驟:計算平均值(4捨5入后,比測定值多求位數),求各組的平均值. +n= (n:為樣本大小) n例如表.的第組的平均值為: += =. ,步驟:計算全距 求每組的全距 = (最大值) 一 (最小值)例如表.的第組的全距. =一=,步驟:計算總平均(4捨5入后測定多求位數) +k= (K:組數) K例如表. .+.+.+.+.+.+.= =.4 ,步驟:計算全距的平均值 +k= 例如表. += =. ,步驟:計算管制界限 (a
4、) X管制圖 中心線CL=X上管制界限 UCL=X+A2R下管制界限 =(為系數,可由表查得)例如表.因n=5,故查表 得=.=.4=+=.5=-=.3,(b) R管制圖中心線 =上管制界限=D4R下管制界限=(當n6時,不考慮)(,為系數,可由表查得)例如表.因n=5故查表 得=.,=.=.=(因n6,故不考慮),步驟:記入管制界限一准備管制圖用紙,繪上分度使 上下管制界限之間隔能在mm左右. 管制圖時 管制圖時 中心線記入實線 中心線記入實線 ,各別記入虛線 ,各別 記入虛線,步驟:檢討制程是否在管制狀態 把點全部記入管制圖上,如果點都在管制界限內 時,即認為制程是在管制狀態下,如果有超出管 制界限外的點時,就判斷制程非管制狀態,必 須 進一步做制程解析,追查原因,制定標准,採 取去 除原因的措施使制程完全進入管制狀態,點在 管制界限上時,亦視同超出界外的點.,END,
