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课程名称 IC 测试从零开始.pdf

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1、课程名称课程名称课程名称课程名称:IC 测试从零开始测试从零开始测试从零开始测试从零开始课程简介课程简介课程简介课程简介:IC测试在整个IC产业中贯穿了从设计到wafer制造到最后封测的所有环节。本课程从IC业背景和测试基础入手,详细介绍了什么是测试,测试的重要性以及怎么做测试。为无论是IC设计阶段的验证,wafersort阶段的CP测试以及封测阶段的FT测试提供指导和帮助,最后结合实际测试机台(选用Chroma3360)和实际芯片,以实际的测定例子来做讲解课程对象课程对象课程对象课程对象:将要或正在从事IC测试的工程师(DesignHouse,Fab,Testing)工作业务和IC测试有关的

2、,对IC测试有兴趣的工程师。收费标准收费标准收费标准收费标准:1000 RMB/人 (含讲义及午餐;团体另有优惠)课程安排课程安排课程安排课程安排上课日期上课时间课程内容讲师09:00-09:30 IC产业基础知识简介09:30-10:30前道工程10:30-10:40休息10:40-11:50后道工程11:50-13:00午餐和休息13:00-14:30 Test Outline14:30-14:40休息14:40-15:10 Prober Card Introduce15:10-15:20休息15:20-17:20 Technical Center参观及设备介绍,包括Tester和Prob

3、er的基本介绍和操作演示09:00-09:40 What is DC test and how to do it09:40-09:50休息10:00-10:50 What is AC test and how to do it10:50-11:00休息11:00-11:50 How to do Function Test11:00-13:00午餐和休息13:00-14:00 Teat Plan Introduce14:00-14:10休息14:10-15:10 Teating Project Demo (offline)15:10-15:20休息15:20-17:20 Online Testing Project DemoBased on (Chroma3360)资深测试工程师第 一 天第 二 天)

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