1、 用户手册 MOSFET综合参数测试机 （旧名： QGRG 测试机） 地 址： 广东省佛山市 南海区 罗村光明大道 16 号（广东省 新光源产业基地 园 区 内） 邮 编： 528000 E-mail ： 客户热线： +86 757 82803659（售后） 83214396（销售） 传 真： +86 757 82803657（售后） 83208786（销售） Tester System / ENGRAVING 专业制造“快测”测试系统 第 一 版 MOSFET 综合参数测试机 用户手册 版权说明 联动科技实业有限公司保留所有权利。 本用户手册包括但不限于其所包含的所有信息都受到著作权法的保
2、护，未经联动科技实业有限公司（以下简称“联动”）许可，不得有任何的仿造、复制、摘抄、转译、发行等行为或为其他利用。 免责声明 本用户手册是以“现状”及“以目前明示的条件下”的状态提供给您。在法律允许的范围内，联动就本用户手册，不提供任何明示或默示的担保及保证，包括 但不限于商业畅销性、特定目的适用性、未侵害任何他人权利及任何使用本用户手册或无法使用本用户手册的保证，且联动对因使用本用户手册而获取的结果或通过本用户手册所获得任何信息的准确性或可靠性不提供担保及保证。 用户应自行承担使用本用户手册的所有风险。用户明确了解并同意联动、联动的被授权人及董事、管理层、员工、代理商、关联企业皆无须为您因本
3、用户手册、或因使用本用户手册、或因不可归责于联动的原因而无法使用本用户手册或其任何部分而可能产生的衍生、附带、章节、间接、特别、惩罚或任何其它损失（包括但不限于利益损失、业务中断 、资料遗失或其它金钱损失）负责，不论联动是否被告知发生上述损失之可能性。 由于部分国家或地区可能不允许责任的全部免除或对上述损失的责任限制，所以上述限制或排除条款可能对您不适用。 用户知悉联动有权随时修改本用户手册。本产品规格或软件程序一经改变，本用户手册将会随之更新。本用户手册更新的详细说明请您联系联动的客户服务热线。 对于本用户手册中提及的第三方产品名称或内容，其所有权及知识产权都为各产品或内容所有人所有且受现行
4、知识产权相关法律及国际条约的保护。 当下列两种情况发生时，本产品将不再受到联动的保修及服务： 1 本产品曾经过非联动授权的维修、规格更改、零件替换或其它未经过联动授权的行为。 2 本产品序号模糊不清或丢失 。i 安全须知 请遵守下列安全防范措施以免操作员受伤害，并防止对本产品或与其相连接的任何产品造成损坏。 避免火灾或个人受伤 1 请使用正确的电源线 务必使用本产品所指定并通过国家鉴定的电源线； 2 正确地连接和断开 在连接机器之间的通讯连接线或对其作改动之前，务必先将机器电源切断，以确保人身及机器的安全； 3 将产品接地 本产品必须通过电源线的接地导体来接地。为了避免外界干扰务必将机器外壳接
5、地端与地面连接； 4 遵循所有接头的额定值 为了避免火灾或电击危险，请遵循产品上的所额定值及记号。在与产品连接之前，请参考本产品手册以确定正确的额定值信息； 5 远离外露电路 测试进行时请勿接触外露的接头或元件； 6 请勿在潮湿环境下操作使用； 7 请勿在爆燃性空气环境中操作使用； 8 请保持产品表面清洁干燥。 备注：接地及电源要求如下 ： 1 为了提高测试机稳定性，保证测量精度必须采取如下措施 1) 测试机外壳的接地柱及测试盒的接地柱必须接入专用地线，地线的接地电阻 2.5mm2)。 2) 降低接触电阻，需将接地线与接地螺栓、接地极紧密且牢靠地连接并需增加接地极和土壤之间的接触面积与紧密度。
6、 3) 降低地电阻，需增加接地极的表面积，及增加土壤的导电率（如在土壤中注入盐水）。 4 降低土壤电阻率的方法 1) 改变接地体周围的土壤结构 ： 在接地体周围的土壤 2 3m 范围内，掺入不 溶 于水的、有良好吸水性的物质，如木炭、矿渣等，可使电阻率降低至原来的 1/5 1/10。 2) 用食盐、木炭降低土壤电阻率 ： 用食盐、木炭分层铺实。木炭和细掺匀为一层，约 10 15cm厚，再铺 2 3cm 的食盐，共 5 8 层。铺好后打入接地体，此法可使电阻率降至原来的 1/31/5。 3) 用长效化学降阻剂 : 此法可使土壤电阻率降至原来的 40%。 为避免潜在的危险，务必按此说明使用本产品。
7、 iii 目录 用户手册 . i 安全须知 . i 第 1 章 概述 1 1.1 简介 1 1.1.1. 概要 . 1 1.1.2. 硬件介绍 1 1.1.3. VDD 电压 1 1.1.4. TMU 配置 2 1.2 技术参数 . 3 1.3 产品应用 . 4 第 2 章 安装调试指引 6 2.1 产品结构介绍 6 2.1.1. 主机箱 6 2.1.2. 测试站 8 2.2 安装条件及环境要求 . 9 第 3 章 操作说明 . 10 3.1 开关机步骤 . 10 3.1.1. 开机步骤 10 3.1.2. 关机步骤 10 3.2 操作界面说明 10 3.2.1. 单 /双 Die 测试连接示
8、意图 10 3.2.2. 界面分布 12 3.3 使用指南 . 13 3.3.1. Logger 的使用 13 3.3.2. Editor 的使用 . 15 3.3.3. Setting 的使用 17 3.3.4. Users 的使用 . 22 3.3.5. Config 的使用 23 3.3.6. LOGIN 的使用 24 第 4 章 测试说明 . 25 4.1 测试说明概述 25 4.1.1. Rg 测试原理介绍 . 25 iv 4.1.2. QG 测试原理 25 4.1.3. Rg 测试结果描述 26 4.1.4. Rg 测试结果错误代码 . 26 4.1.5. Rg 测试超出量程 26
9、 第 5 章 维护与保养 . 28 5.1 使用注意事项 28 5.2 维护拆装指引 28 5.3 备件清单 . 28 5.4 日常维护与保养 28 第 6 章 接口说明 . 29 6.1 接头 (CONECTOR)各信号端 (PIN)定义 . 29 6.2 QUICKTEST-4120S HANDLER 接口回路图 30 第 1 章 概述 1 第 1章 概述 1.1 简介 1.1.1. 概要 MOSFET 综合参数测试机 是一个可升级，灵活配置的测试系统。它包括一个运行 嵌入式操作系统 的控制器，可以对数据进行记录分析，并记录为联动专用 格式 的测试文件。可以通过 USB 口，以太网， RS
10、232 接口等上传数据到服务器。或者通过上位机（服务器）直接自动下载测试流程，自动测试。对工厂的无人控制，减少操作人员的失误提供了灵活的解决方 案。 同时， MOSFET 综合参数测试机 可以连接最多 4 套的测试测量单元（ TMU）， 控制 它们进行并行测试。因此 ， MOSFET 综合参数测试机 可以同时连接一 到四 套 Handle，测试 四个不同的器件，或者两 个器件的两个 die，提高产能与灵活性。 1.1.2. 硬件介绍 1 一个嵌入式控制器，运行嵌入式操作系统，带一个 USB 接口，并可作为机器升级固件 ，下载测试流程，刷新操作系统 使用。 800*480 分辨率的触摸液晶屏，一
11、个 HDMI 视频输出接口，可以外接显示器。两个可以作为外部通信用的 RS232 接口，一个 10/100 以太网接口（ Ethernet），一个 HP 标准仪器接口（ GPIB）。可以 通过 上位主机控制 MOSFET 综合参数测试机 ，下载合适的测试流程， 收集数据， 或者上传数据到服务器进行处理。 2 MOSFET 综合参数测试机 包括一套标准的电源，为整机以及测试单元提供工作的电压电流。 3 测试测量单元（ TMU）包括 QVI 以及 MVI 两个部分。一套 MOSFET 综合参数测试机 最多可以容纳 四 套 TMU，以便同时测试 四 个不同的器件。 1.1.3. VDD 电压 MOS
12、FET 综合参数测试机 内包含一个 100W 的 Vdd 供电单元。此供电单元可以在需要的时候同时给两套 TMU 设备供电，进行测试 。 VDD 电源输出范围 10100 V 说明 ： Vdd 电压供电始 终稳定为 150V，不能调整。此电压给 QVI 板供电， QVI 板输出合适的电压电流进行测试，可以四象限限制输出。 第 1 章 概述 2 1.1.4. TMU 配置 可以通过配置不同的 TMU 单元，实现不同的整机配置。 1 目前 已实现 有： 实现 1 -可实现测试 Rg & Qg 功能 实现 2-可实现测试 Rg 独立功能 实现 3-可实现测试 Qg 独立功能 2 未来计划开发有： 计
13、划 1 -N and P-Channel 开关时间测试 计划 2 -Trr/Qrr 二极管存储电荷测量单元 说明：我司 正在开发更多种类的的 TMU。如想了解最新进展，请联系本司销售人员。 第 1 章 概述 3 1.2 技术参数 名称 项目 参数 MOSFET 综合参数测试机 简要规格 输出电流 /电压 150A / 10100V 通道 通道数可选 ： “1 通道 ” 或 “2 通道 ” 或 “4 通道 ” 测试器件 MOS-FET （ N 型 MOSFET QG 测试） 电源电压 AC 200 240V（或 100V 110V） ； 50Hz/60Hz 消耗电力 150VA 冷却方式 风冷
14、外形尺寸 测试主机： 480(宽 ) 460(深 ) 260(高度 )mm 测量分辨率 Rg： 0.05 欧 ； Qg： 0.1nC 测量精度 Rg: 5%0.2 欧 测试主机规格 Bias数 /项 标准 4 个（ 16 位） (D/A Converter) 偏置回路 (标准配置 ) Voltage Generator 0.5 50A/10100V 测量数 /项 1 个 (16 位 ) (A/D converter) 测试回路 (标准配置 ) 电荷测量单元 0.1nC Relay 动作时间 3ms 测试项目数 CONT， QG， RG 三个测试项 校准功能 Rg 具有校准功能 输入信号 TES
15、T START 信号 外部接口规格 输出信号 TEST END 信号、 BIN 信号 分类信号 内置 9 种分类可选 内置控制系统 集成测试条件编写，数据显示功能 注： 以上 所列为基础配置及基本技术参数，如有变动，按所签订的技术协议书为准； 第 1 章 概述 4 1.3 产品应用 MOSFET 综合参数测试 机 可以通过如下几 种方式连接 Handle 进行测试分选。 1 单机通过一个测试站连接一个 Handle。这种方式使用最广，配置最灵活。如下图： 2 单机通过两个测试站分别连接两个不同的 Handle，下载不同的测试流程做并行测试。这种方式在客户需要同时进行两种器件的测试分选时可以提高
16、产能，如下图： 3 测试一个 器件 里面包含两个的 die 的时候，使用一台 QT-3201QgRg 测试机连接一台 Handle同时进行测量，两个器件可以相同也可以不同，如下图： 4 测试一个器件里面包含两个的 die 的时候，使用一台 QT-3201QgRg 测试机连接 两 台 Handle 第 1 章 概述 5 同时进行测量，两个器件可以相同也可以不同，如下图： 第 2 章 安装调试指引 6 第 2章 安装调试指引 2.1 产品结构介绍 2.1.1. 主机箱 1 尺寸图 第 2 章 安装调试指引 7 2 前面板 3 后面板 Handler 接口 连接到测试站 COM 端口 电源开关 触摸
17、屏 USB 接口 拨码开关 第 2 章 安装调试指引 8 2.1.2. 测试站 第 2 章 安装调试指引 9 2.2 安装条件及环境要求 MOSFET 综合参数测试机 对 AC 电源输入要求 电压： 200-245V 频率： 50-60Hz 输入最大电流： 2A 注意 ： MOSFET 综合参数测试机 配备了 10A， 5 x 20mm 的保险丝， 并串联在整个电源的火线中；以便在机器出现重大故障时保护其他设备 及使用者。 第 3 章 操作说明 10 第 3章 操 作说明 3.1 开关机步骤 3.1.1. 开机步骤 打开测试机 电源，蓝色指示灯亮 。 3.1.2. 关机步骤 1. 关掉 所有测
18、试通道 。 2. 关闭测试机 MAIN 蓝色电源指示灯灭。 3.2 操作界面说明 3.2.1. 单 /双 Die 测试 连接示意图 MOSFET 综合参数测试机 可测试单 Die 和双 Die 的器件，测试连接示意图如下： 第 3 章 操作说明 11 1 单 Die 连接：一个测试单元对应一个 Die 的器件 进行测试，如下图所示： 2 双 Die 连接：两个测试单元对应一个 双 Die 的器件 进行测试，如下图所示： 第 3 章 操作说明 12 3.2.2. 界面分布 1 菜单区 说明： Logger： 运行界面 Editor： 测试文件编辑界面 Setting： 维护设置界面 Users：
19、 用户权限设置 Config： 用户设置界面 Login： 后台设置登入界面 管理菜单区 软件版本号、用户名等信息区 第 3 章 操作说明 13 2 操作员运行界面如下图所示： 3.3 使用 指南 3.3.1. Logger 的使用 第 3 章 操作说明 14 3.3.1.1 Load 的使用 导入测试项目 ，点击“ Load”，选择相应测试项目，然后点击“ OK”，如下图： 3.3.1.2 Manual/Auto 的使用 自动和手动测试切换键，手动测试可以设定 手动 运行 次数 “ Run Times”，如下图所示： 设定运行时间 第 3 章 操作说明 15 3.3.1.3 Run/Stop
20、/Menu 的使用 Run:运行按键。 Stop:停止按键。 Menu:主菜单按键。 3.3.2. Editor 的使用 输入测试电流值 选择输入测试的最小值或最大值 第 3 章 操作说明 16 3.3.2.1 New 的使用 先 点击“ New”按键新建测试项， 再点击 添加新测试项 文件 名称，如下图： 3.3.2.2 OneDie/Double 的使用 输入测试项名称 清空键 退出键 删除键 确认键 大小写切换键 可设置单 Die 和双 Die 测试 第 3 章 操作说明 17 3.3.2.3 Open 的使用 点击“ Open”打开文件中的测试项列表，选择需要测试的项目，然后点击“ O
21、K”，如下图： 3.3.2.4 Save/Save As/Close 的使用 Save： 保存已编辑的测试项。 Save As： 另保存为其它测试项。 Close： 关闭编辑窗口。 3.3.3. Setting 的使用 3.3.3.1 System 的使用 选择测试系统 ， 选择 “ Measure Boards” 选项。 第 3 章 操作说明 18 3.3.3.2 Boards 的使用 有多种不同选择： 一块板对应一个 Die； 两块板对应两个 Die 或一个双 Die； 四块板对应四个 Die 或两个双 Die； 第 3 章 操作说明 19 3.3.3.3 Logger 的使用 3.3.3
22、.4 Update 的使用 1 选择 Setting - Update - Update Code 功能用来更新 Arm 主程序 ； 方法 ： 插入优盘，在优盘根目录下建立 20131118 目录 (机子显示日期 )，将主程 序（ qteide）第 3 章 操作说明 20 放在优盘以上目录下，按下 Update Code 按键 ， 即 可完成更新 。 并 reboot 机子，查看界面下方的 App Ver 可以确认版本号是否正确。 2 选择 Setting - Update - Arm 栏目的 Update Core 功能用来更新 Arm Core； 方法： 插入优盘，将 Arm Core (
23、ArmCore.dat）放在优盘根目录下，按下 Arm 栏目的 Update Code 按键，完成更新 。 通过按下 Debug-I/O Debug- 下方 Compile Date： -可以看到Compile Date 来确认更新版本日期。 3 选择 Setting - Update - Qvi 栏目的 Update Core 功能用来更新 Qvi Core； 方法： 插入优盘，将 QviCore (QviCore.dat）放在优盘根目录下，首先选择需要 Update Core的通道号，然后按下 Qvi 栏目的 Update Core 按键，完成更新 。 通过填入 channel 号 0,1
24、,2,3（分别代表通道 Runtime1,2,3,4）然后按下 Debug-I/O Debug- 上方 Compile Date:-可以看到相应通道的 Compile Date 来确认更新版本日期。 4 选 择 Setting - Update - Qvi栏目的 Update Qvis Proc功能用来更新 Qvi Nios Proc(即测试流程 )； 方法： 插入优盘，将 QviNios Proc (QviNiosProc.dat）放在优盘根目录下，按下 Qvi 栏目的Update QvisProc 按键，完成更新。 第 3 章 操作说明 21 3.3.3.5 Others 的使用 选择 S
25、etting - Others - Job 栏目的 LoadJobs 功能用来拷贝编辑好的测试流程 ； 方法： 插入优盘，在优盘根目录下建立 sorts 文件夹，按下 LoadJobs 按键，将测试流程拷贝到 sorts 文件夹中。 TimeSeting：点击 可调整日期和时间。 第 3 章 操作说明 22 3.3.4. Users 的使用 点击 添加用户名称后，可编辑用户权限， 点击“ Save&quit“键保存退出， 如上图所示： 选择需要删除的用户名，点击 可 把相应的用户 删除 。 编辑用户权限 输入用户名称 字母切换键 第 3 章 操作说明 23 3.3.5. Config 的使用 3.3.5.1 SortBins 的使用 3.3.5.2 System 的使用 测试分类 测试分箱 测试分箱逻辑 重启 主机 第 3 章 操作说明 24 3.3.6. LOGIN 的使用 打开机器后，选择相应用户权限输入密码登录进入运行界面，如下图“ Users”登录界面： 1、 用户名称在指定范围里，通常一个名称对应一个指定的操作员或管理员； 2、 输入有效密码后点击“ OK”，进入运行界面； 3、 如果用户想修改登录密码，直接点击“ Change Password”进行修改密码，如下图： 选择用户权限 输入密码 输入密码 输入新密码 输入新密码
