1、Agilent 射频与微波器件测试解决方案AgilentMeasurementForum议程 射频微波器件及测试技术发展 Agilent 网络仪产品： PNA-X,E5061B 频率源测试技术 微波器件的系统级参数测试 热点技术问题的解决方案 有源电路非线性参数测试和建模分析 脉冲器件测试 混频器测试 噪声系数测试 太赫兹测试AgilentMeasurementForum电子系统对微波电路的要求雷达系统 卫星系统 军用通信系统宽频段高功率低噪声线性好高效率低成本AgilentMeasurementForum微波半导体器件技术的发展AgilentMeasurementForum射频多芯片封装技术
2、 SIPAgilentMeasurementForum系统中的射频微波器件Mixer TestSingle Connection:Gain compression,IMD, noise figure, harmonics,true differential,PAE, hot S22Amplifier TestT/R ModuleTestPulsed RFand DCOn waferOSC&PLLAgilentMeasurementForum射频微波器件测试要求器件线性特性测试S参数，增益，反射，相位非线性，群时延，隔离度等器件非线性特性测试增益压缩，交调，谐波，杂散变频器件和通道测试变频增益，
3、相位，群时延，模块一致性测试幅度一致性，相位一致性噪声特性测试相位噪声，噪声系数器件功率特性测试峰值功率，脉内功率，平均功率，功率下降复杂激励下器件和通道特性测试线性调制线性度，干扰测试，临道功率比测试脉冲特性测试脉冲边沿，过冲AgilentMeasurementForum微波电路测试的挑战测试应用 对测试仪表的要求功率放大器测试 仪表提供满足要求的大功率激励信号。 仪表对大功率的承载能力，大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。 热状态下 S22参数测试。 非线性参数的建模和非线性参数的测试低噪声放大器 完整的性能参数测试，包含传输反射参数，非线性参数，噪声系数。 小功率激励状态下仪表的测
4、试精度 小噪声系数的精确测试，噪声参数的建模混频器测试 混频器完整传输反射参数测试，混频器传输相位参数测试 混频器各种工作模式下参数的测试（固定中频，固定本振等） 混频器本振信号的提供T/R组件测试 脉冲的测试应用，脉冲状态下扫频合时域参数的测试。仪表满足各种脉冲宽度的测试要求。 脉冲状态下仪表的测试精度，特别是相位参数测试精度。 T/R组件增益参数大动态范围可控，需要仪表在具备相应的测试动态范围。 仪表的测试速度。平衡器件测试 完整的差分和共模混合 S参数测试 真实的差分激励状态的参数测试 功率扫描模式下参数测试AgilentMeasurementForum器件测试新思路 单次连接多参数测量
5、 SCMMGain, match, isolation Pulsed-RF IMD,harmonics, spurs不仅仅是 VNA，还是可内部和路的双源矢量噪声系数分析脉冲调制器和发生器频谱仪非线性分析节省 时间 , 资金 , 尺寸 , 维修成本改善 精度 , 速度， 指标AgilentMeasurementForumPage 10Welcome to the PNA-XJanuary 2009关键模块微波特性测试系统N8241A 1GHzE8267D Vector PSG SourceNPR / 复杂信号激励80MHz or 1GHz BW Options校准标准N5242/4A PNA-
6、X单音或双音 CW测试，脉冲测试噪声测试， NVNAN9030A PXA 频谱分析 & NPR测试解调分析Scopes / Digitizers / VSA Software 外部源和信号分析仪连接网络仪后背板连接点，所有测试使用同一个测试通路Power Sensor, E-Cal, Noise SourceE5052B 信号源分析仪AgilentMeasurementForumAgilent网络仪覆盖广阔的测试应用 ModuleTestMm-waveLoad pullNoise parametersSingle Connection:Gain compression,IMD, noise f
7、igure, harmonics,true differential,PAE, hot S22Mixer TestAmplifier TestPulsed RFand DCScanning MicroscopeMaterials MeasurementsSignal IntegrityNVNAComponent characterizationX-parameter extractionPulse envelope domainPNA-X13.5 GHz43.5 GHz50 GHz26.5 GHzAgilentMeasurementForumAgilent PNA-X微波高性能网络分析仪 Ag
8、ilent 新的微波网络仪平台。 针对射频微波器件测试的应用。满足对放大器，混频器，多通道器件，脉冲器件 ,差分器件等微波射频器件测试要求。 完整的激励源配置方式：双源配置，单音激励，双音激励，扫频双音激励，连续波形式或脉冲调制形式 测试功能完整（线性参数，非线性参数和噪声参数）。 频率范围： N5241/2/4/5A： 10 MHz13.5G/26.5G/43.5G/50GHz 端口数量： 2端口或 4端口配置 先进的接收机处理技术，仪表大测试动态范围，高测试精度。 灵活的配置方式。 大屏幕显示，方便简单的操作使用。内置双激励信号源AgilentMeasurementForumPNA-X完整
9、的测试能力AgilentMeasurementForum扫频状态下增益，驻波性能测试扫功率状态下 1dB压缩性能测试内置双源激励状态下交调性能测试扫频状态噪声系数测试脉冲状态时域测试单次连接实现完整的参数测试AgilentMeasurementForum噪声源用于噪 声测试校准 RF jumpers ReceiversMechanical switchCR3Test port 1R1Test port 4R4A Drear panelPulse generators1234Source 1OUT 1OUT 2PulsemodulatorSource 2OUT 1OUT 2Pulsemodula
10、torTest port 2R2BNoise receivers10 MHz -3 GHz3 -26.5 GHzTo receiversLO+28VTest port 3Signalcombiner+-电子校准件用于噪声测试中的阻抗调谐J9J10J11 J8 J7 J2 J1J4 J3激励和接收机的闭环测试系统，同频和频率偏置工作模式为被测件提供单音，双音，噪声等激励信号激励信号时域连续和脉冲调制信号形式激励源和接收机功率参数控制PNA-X 网络仪的完整配置AgilentMeasurementForumPNA-X网络仪技术特点可配置为双激励源结构灵活的测试装置配置方式 内部包含信号开关和合路等
11、电路 通过机械开关配置测试信号 开放的激励源合接收机接口， 可通过外置放大器或衰减器扩展测试功率范围。源的技术性能 高功率输出 ( +13 dBm) 频谱纯度高 (谐波抑制 -55 dBc) 大功率扫描范围 ( 50 dB) 脉冲调制能力 内置脉冲调制器和脉冲发生器接收机技术 大动态范围，内置接收机衰减器， 0.1dB压缩点 12dBm 宽接收带宽， IFBW最大 5MHz 接收机和激励源的灵活频率关系配置Source 2OUT 1 OUT 2Source 1OUT 1OUT 2AgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的激励源功率性能 PNA-X 提供大功率激励信号 满足
12、有源电路测试要求 提高仪表测试动态范围支持外置推动放大器扩展激励功率 提供外置推动放大器接入通道 支持功率校准消除外置放大器误差，保证激励信号功率精度测试频率： 20GHz,输出功率 13dBm最大输出功率最小输出功率： -95dBmAgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的激励源频谱性能激励信号频谱纯度高，杂波和谐波抑制性能高保证网络仪测试精度保证对混频器件测试结果的准确保证放大器交调性能测试的正确测试频率： 10GHz,谐波抑制 65dB测试频率： 10GHz,双源激励带外抑制 85dBAgilentMeasurementForumPNA-X网络仪的接收机性能接收机灵
13、敏度性能保证测试仪表的动态范围和测试精度。接收机动态范围保证仪表测试动态范围和大功率器件测试能力。接收机功率压缩点接收机灵敏度AgilentMeasurementForum基于 PNA-X的器件测试平台Test port 3CR3Test port 1R1Test port 4R4Test port 2R2A D BTo receiversLOPulse generatorsrear panel1234Source 1OUT 1 OUT 2PulsemodulatorSource 2(standard)OUT 1 OUT 2PulsemodulatorJ9J10J11 J8 J7 J2 J1J
14、4 J3被测件AgilentMeasurementForumPage 21E5061B-3L5 LF-RF 网络分析仪ENA 系列 “5 Hz 到 3 GHz 网络分析仪 ” 新产品3 GHz5 Hz 20 GHz300 kHz9 kHzE5061/62A E5071CE5061B-3L5E5061B-3L5, 5 Hz 到 3 GHzE5071C, 9/100 kHz 到 4.5/6.5/8.5 GHz, 300 kHz 到 14/20 GHzE5061A/62A 300 kHz 到 1.5/3 GHz新产品从 2009年 10 月 开始安捷伦科技推向市场的新的 ENA 系列产品2 端口和
15、4 端口两种配置混频器测量夹具仿真、嵌入 /去嵌入放大器测量， 等等2 端口配置 , 外加增益 -相位测试端口（ 1 兆欧 /50欧姆）内置直流偏置源2 端口配置（ TR和 S参数测试）50 欧姆和 75 欧姆测试低成本AgilentMeasurementForumPage 22MPUMCUDC-DC(POL/VRM)S 参数测试从几兆赫兹到数千兆赫兹环路增益测试毫欧级阻抗值和 S21测试从接近直流频率到数千兆赫兹频率响应和阻抗测试从 100 kHz 到 MHz 范围DC-DC 变换器无线通信接口（ Zigbee, 蓝牙 , HF/UHF RFID 等 )低速 /中速数据总线(CAN, Fle
16、xRay 等 )T收发信机振荡器电路频率响应测试CMRR, 和 PSRR从接近直流频率到 100 MHzPDNs (电路板供电网络 )低频放大器频率响应 (环路增益 ) 数 MHz 测试范围收发信机传感器信号广泛的应用范围 （汽车电子 , 医疗设备 , 航空航天和防务电子）在低频频段具有高的动态范围需要提供直流偏置的测试环境极为出色的RF 测试性能测试频率从 5 Hz 到 3 GHz 使用 E5061B 可以方便地对频率范围从接近直流到数千兆的各种器件和电路进行测试 精确的测试精度有效地提高电子设备的可靠性！在数兆赫兹范围内都有很高的动态范围滤波器天线在电子设备中，从低频到射频需要进行测试的器
17、件、电路A/D 在低频范围内也有很高的动态范围一次扫描就可以覆盖 5 Hz 到 3 GHz 的范围AgilentMeasurementForum频率源器件的发展状态表面贴装的恒温晶振和温补晶振良好的相位噪声频率覆盖至射频集成的锁相环及 VCO电路采用小数分频的单片锁相环芯片双锁相环单片芯片可工作到 6G频段的集成 VCO单片 PLL覆盖到 6GHz频率范围14BitDAC, 400MHz采样时钟10BitDAC, 1GHz采 样时钟多片 DDS的时间同步控制内置的高速 DAC输出信号杂波抑制 80dBc压控振荡器AgilentMeasurementForumE5052B主要性能 DC至 7 G
18、Hz 、26.5GHz频率覆盖 ,可扩展至微波频段 完整的测试分析能力 功率参数，频率参数 相位噪声 频谱杂散 频率 /相位跳变过程 调幅噪声测试 基带信号分析 最高的相位噪声测试性能和灵活性 自相关相位噪声测试技术 系统噪底 : -178 dBc/Hz 测试速度快：， 10 nsec 采样间隔 高性能本振信号源 完整的频率跳变特性分析，最大的跳频过程分析带宽可到 4.8GHz 提供高精度低噪声的直流电源 基于 window的操作平台 ,内置的 VBA环境Agilent E5052B信号分析仪相位噪声测试跳变过程分析频率，功率参数分析频谱分析E5052B：10 MHz to 7 GHz（可 扩
19、 展至微波 /毫米波）信号源分析 仪AgilentMeasurementForumAgilent E5052B信号分析仪功能相位噪声测试功能 频谱分析功能频率，功率，功耗测试功能 频率，相位跳变过程分析功能调幅噪声分析功能 基带信号频谱分析功能AgilentMeasurementForumAgilent RestrictedE5052B 相噪测试技术高相位噪声灵敏度测试：互相关处理技术普通性能相噪测试：鉴相法测试频率稳定度差频率源相噪测试：数字鉴频法测试AgilentMeasurementForumE5052B 相位噪声测试性能提高E5052AE5052B100 dBc/Hz 1Hz Offs
20、et 测试频率不受参考源限制，可完成任意点频晶振相位噪声测试应用。近端相位噪声测试灵敏度性能提高 14dB测试速度得到提高相当于 E5052A 使用使用 1000 次互相关处理不需要使用互相关处理，相位噪声测试性能达到：-100dBc/Hz 1Hz offset10MHz测试举 例AgilentMeasurementForum数字鉴频法测试频率稳定度差的源显示结果分别为连续波状态和调频状态下信号源输出信号的测试对比AgilentMeasurementForum微波频段相位噪声测试（ 75GHz）SSA在相噪测试测试中全频段都可支持互相关处理技术AgilentMeasurementForum系统级参数测试-器件在复杂激励下的响应N8241A+E8267D & N9030A宽带矢量信号源产生复杂雷达信号，卫星通讯信号，多音信号对器件激励信号分析仪测量器件输出信号的频谱特性，时域特性，调制域特性测试仪表的大动态范围性能，高解调精度性能
