1、Clock Measurement Skill,Date : 2017/07,Agenda,Power Crystal Clock Clock，DDR CLK，PCI CLK ， Low Frequency Clock,POWER,1 .量測表格 :,POWER,POWER,將position scale 儘量調小,將resolution scale調整至200s,開bandwidth:20MHz,注意調整offset使量測圖形集中於屏幕中間,量測max,min,mean值,Position 點儘量調到整格線,記得加上label,跑3000筆以上,Crystal Clock,1 .量測表格 :
2、,Crystal Clock,20X32.768/1000000=0.000655 Max=32.768+0.000655=32.768655 Min=32.7680.000655=32.767344,補充： 1.Frequency tolerance 請參照spec或是零件承證書。 2.接上電源處於待機模式量測。 3.若無法截取頻率 則開機進入BIOS模式量測（PCH、CLOCK GEN）或是接上網路線（LAN）。,Crystal Clock,Crystal Clock,Frequency Counter,Clock,1 .量測表格 :,Spec 參照方式以終端為主，發送端為副 如果終端找不
3、到SPEC則往前一階找 CLK GENPCHSIO(SIO SPEC) 如果SIO找不到則找PCH，如果PCH找不到才找CLK GEN.,Main clock signal in mother-board,Clock Gen Differential /Single Clock,High Frequency Differential Clock Low Frequency- Single Clock,Clock,Clock,Frequency,取最小值、最大值,累積500筆資料),Rise & Fall time,Rise & Fall time（續）,Rise & Fall time（續）,
4、High & Low time,Jitter,設要量測的channel,1.Jitter：有些是示波器是 FilesRun applicationjitter analysis3,Jitter,數值調整到25左右,調整完後執行,量測Jitter時要記得關掉累積, 且要跑1000筆以上,DDR Clock,1 .量測表格 :,1.SPEC:JEDEC Standard 2.量測點在RAM上,DDR Clock,DDR III Schematic Introduction,Address,Data,Vref,Clock,Cross Voltage,Cross Voltage,設要量測的channe
5、l,1.Jitter：有些是示波器是 FilesRun applicationjitter analysis3,Cross Voltage,量測CrossVoltage時要記得關掉累積, 且要跑200筆以上,調整resolution 至最精密,調整完後執行,讓波形彼此互相交叉3個點,PCI CLK,1.量測表格:,PCI CLK,PCI CLK,將橫向的SCALE調整到只有一個完整的rise edge,b.量测Rising time,依spec設定,Rise Time=0.66V-1.98V，Fall Time=0.66V-1.98V Pci Spec-Max:4 V/ns;Min:1 V/ns (1.98-0.66)/t=4,t=0.33ns,(1.98-0.66)/t=1,t=1.32ns,PCI CLK,將橫向的SCALE調整到只有一個完整的 fall edge,c.量测Falling time,依spec設定,PCI CLK,d.量测Low time,調整到只有一個完整的Low time,依spec設定,PCI CLK,調整到只有一個完整的 Hi time,依spec設定,e.量测High time,Low Frequency Clock,測試方法與PCI相同，注意終端SPEC,
