1、 本文由dfcxz1贡献ppt文档可能在WAP端浏览体验不佳。建议您优先选择TXT，或下载源文件到本机查看。LED资料简介 资料简介内容1 2 3 4 LED lamp SMD制程介绍 制程介绍 仪器介绍 LED电性参数 电性参数使用注意事项 5 5 LED使用注意事项LED的工作原理 的工作原理LED即发光二极体，是Light Emitting Diode的英文简写，为能自然发射出 即发光二极体， 的英文简写， 即发光二极体 的英文简写 紫外光、可见光及红外光区波长的 接面. 紫外光、可见光及红外光区波长的P/N接面.其发光原理是电激发光，利用 接面 其发光原理是电激发光， 半导体接面(P/
2、N Junction)加顺向电流导通以后，以自由价电子与电洞耦 加顺向电流导通以后， 半导体接面 加顺向电流导通以后 合，而将电能转变为可见之辐射能LED优点 优点寿命长,一般大於 万小时 寿命长,一般大於10万小时 功耗小,亮度高, 功耗小,亮度高,可与积体电路匹 体积小, , 体积小, ,可 的 器 用, 用,不 , ,可 工作 度 性 时 ,一般为 时 ,一般为 (ns) 光, 光,不是光源 与光电体currency1合时可以作为“光 与光电体currency1合时可以作为“光 电fi,可以用fl 能电作电源,与积体电路匹 电fi,可以用fl 能电作电源,Led原 料 原 料 ” ”LE
3、D发光 发光2LED Lamp SMD 制程介绍LED lampcurrency1 currency1LED lamp制程 制程- 制程利用 将 在”, ) 利用 将 在”,然后导 ()”(Lead Frame)LED lamp制程 制程- 制程 将 於 , 将 於 ,以利 LED lamp制程 制程- 制程(点 ) (点 )” 点 LED lamp制程 制程- 制程查LED lamp制程 制程- 制程(Ball (Ball Bond) 利用 度,fi , 波,将接於 与” 利用 度,fi, 波, currency1 查LED lamp制程 制程 制程利用 ,将可能於 时 之内 , 利用 ,将
4、可能於 时 之内 , 先 LED lamp制程 制程- 制程不 , 不 , 合与 B A LED lamp制程 制程- 制程 将 内之 , 将 内之 ,利 用 pump 用 pump LED lamp制程 制程- 制程 将用 Lamp 体 之 体 之TPX 将用 Lamp 体 之TPX, TPX TPX LED lamp制程 制程- 制程将 完 之 ,利用 ,适 注於TPX穴内 将 完 之 ,利用 ,适 注於TPX穴内LED lamp制程 制程- 制程插” 将已 ”,依极性 ,插入 之TPX穴内 短 , 穴内, 将已 ”,依极性 ,插入 之TPX穴内, 短 ,使 体 初期硬化插”短 LED l
5、amp制程 制程- 制程 初期硬化完 , , 长 , 初期硬化完 , , 长 ,使 体完全硬化长 LED lamp制程 测试 制程 测试 制程一次前切 将”Upper Bar切 电镀 将”Upper Tie Bar切 电镀电镀液/ 电镀液/锡粒 长 一次前切镀锡外观LED lamp制程 测试 制程 测试 制程二次前切 LAMP之阴 极切, 极为长脚且连currency1, 之阴, 将LED LAMP之阴, 极切, 极为长脚且连currency1,阴极为短脚 自独立二次前切LED lamp制程 测试 制程 测试 制程测试: 测试: LAMP脚位 电性测试与外观项目 验 依LAMP脚位 电性测试与
6、外观项目 验电性测试项目: 电性测试项目: 路(Open) 路(Open) 外观 验项目: 外观 验项目: 偏心 杂 短路(Short) 短路(Short) 顺向电fi(Forward Voltage,Vf) 顺向电fi(ForwardVoltage, 漏电流(Reverse Current,Ir ) 漏电流(Reverse Current,测试品 外观LED lamp制程 测试 制程 测试 制程后切 将 极连currency1之”Lower Bar切, LAMP 为单独个体 将 极连currency1之”Lower Tie Bar切,使LED LAMP 为单独个体 切后切LED lamp制程
7、 光 制程 光 制程光 利用自 机台,将单颗LAMP逐一测试 逐一测试, 利用自 机台,将单颗LAMP逐一测试,依 特性 Bin项目 项目 亮度(Luminous Intensity,Iv) 亮度(Luminous Intensity, 波长(Wave Length,WL) 波长(Wave Length, 顺向电fi(Forward Voltage,Vf) 顺向电fi(Forward Voltage, 原Open,Short,Vf,Ir电性项目一测试 Open,Short,Vf,Ir电性项目一测试BIN包 QA入库LED SMDcurrency1 currency112100805060312
8、09352830200205050LED SMD制程 制程点 剥料光包 3仪器介绍IQC 料 验仪器 料 验仪器工具 镜高倍电子 镜可放大至500及1000倍 高倍电子 镜可放大至500及1000倍,可以很 500 楚看到表面有无刮伤, 楚看到表面有无刮伤,静电击伤等情 以 及 接 ,表面是否有刮伤,及 接 ,表面是否有刮伤,可以让 我们 楚判断LED 不良一些细因 我们 楚判断LED 不良一些细因 LED裸测试仪及ETS 910静电拟仪主要针对粒 料 验及新粒承认 电性与光性 主要针对粒 料 验及新粒承认 电性与光性 之精准测试,用 测供 商所标 参数是否合格, 之精准测试,用 测供 商所标
9、 参数是否合格, 910静电拟仪主要用测试裸及 品抗静电能 ETS 910静电拟仪主要用测试裸及 品抗静电能 ,可以准确为客户提供更强高抗静电品IQC 料 验仪器 料 验仪器工具投影仪测试描述:直接测得”的 个尺寸,有助於 料 验人员管 测试描述:直接测得”的 个尺寸, 测试描述 制供 商的品;测 R 制供 商的品;测 R角 测试优势:保证自 机 顺畅性管控每一个LED的发光角 测试优势:保证自 机 顺畅性管控每一个LED的发光角 测试优势 管控每一个LED 度及光 图X-射属镀层测厚仪测试描述:精确的测 出镀铜,镀镍,镀的厚度, 测试描述:精确的测 出镀铜,镀镍,镀的厚度, 测试描述 测试优
10、势:更准确有效地 析”的性能,保证原 料以及 测试优势:更准确有效地 析”的性能, 测试优势 品的品和信赖性Process Instrument制程 验仪器 制程 验仪器测试机测试描述:测 与电极之 currency1合 以及 测试描述:测 与电极之 currency1合 以及 测试描述 电极 测试优势:保证LED内部点的可 性,保证LED 品的 测试优势:保证LED内部点的可 性,保证LED 品的 测试优势 LED内部点的可 性 LED 品信赖性 测试 :LAMP 人 SMD全 品 测试 :LAMP SMD全 品 测试 角度测试仪测试描述:可测 LED的发光角度, 测试描述:可测 LED的发
11、光角度, 测试描述 LED的发光角度 IT-IV等 图 等 图, I-V/ I-IV/ T-IV等 图, 析LED的 电性参数 析LED的 电性参数 LED制程 验仪器DSC效 析仪测试描述:DSC为 TA 析仪器,主要测试Epoxy 测试描述:DSC为 TA 析仪器,主要测试Epoxy 测试描述 为 TA 析仪器 TG( 转 点 度) 的TG( 转 点 度)及硬化程度 测试优势:保证LED 体的 ,保证LED 品的品 测试优势:保证LED 体的 ,保证LED 品的品 测试优势 LED 体的 LED 信赖性IS标准测试仪 标准测试仪IS测试仪为 认可的LED标准测试仪器, IS测试仪为 认可的
12、LED标准测试仪器, IS测试仪为 认可的LED标准测试仪器 可 至 PTB标准, 作为测LED的流 可 至 PTB标准,可作为测LED的流 PTB标准 (Lm),亮度(Iv) 功 (P) (Iv), (P)以及发光功 (Lm),亮度(Iv),功 (P)以及发光功 的标准仪器Reliability Test信赖性 验仪器 信赖性 验仪器化测试描述:在 下对料长期点亮,观 料的 测试描述:在 下对料长期点亮, 测试描述 测试 件:Temp:235 IF=20mA/1000H 测试 件: emp:23 IF=20mA/1000H 测试 件 :23 测试标准:JESD22-A108-A 测试标准:J
13、ESD22-A108测试标准 测试数 :100PCS 测试数 :100PCS 测试数 标准:0 1 标准:0 标准:0高 化测试描述:在高 下对料长期点亮, 测试描述:在高 下对料长期点亮,观 料的 测试 件:lamp:85 测试 件:lamp:85 5 10mA/168H :lamp:85 SMD:85 15mA/168H SMD:85 5 15mA/168H 测试标准:JESD22-A108测试标准:JESD22-A108-A 测试数 :100PCS 测试数 :100PCS 标准:0 标准:0 1 :0信赖性 验仪器击测试描述:在 的高 转完 对料的信赖性测试 测试描述: 测试描述 测试
14、件:-45 /30min 105 /30min 50Cycles 测试 件: 45 /30min 105 /30min 测试 件 /30min 测试标准:JESD22-A106 测试标准:JESD22测试标准 测试数 :60PCS 测试数 :60PCS 测试数 标准:0 1 标准:0 标准:0 测试描述:拟客户的不 使用 件,使料在高 及外加 测试描述:拟客户的不 使用 件, 测试描述 度的 件下完 对料的信赖性测试 测试 件:H:+85 /RH:85% 0.5H 测试 件:H:+8 测试 件L:-25 /RH:0% L: 测试标准:JESD22-A101 测试标准:JESD22测试标准 测试
15、数 :60PCS 测试数:60PCS 测试数 标准:0 1 标准:0 标准:0 0.5H 50Cycles信赖性 验仪器currency1流测试描述:拟客户接PCB的使用 件,完 3min的测试观 料的信赖性 测试描述:拟客户接PCB的使用 件,完 3min的测试观 料的信赖性 测试描述 PCB的使用 件 3min 测试 件:210270190 测试 件:210 测试 件 0 测试标准:JESD22-A113 测试标准:JESD22测试标准 测试数 :60PCS 测试数 :60PCS 测试数 标准:0 1 标准:0 标准:0 3min/2cycles保 测仪器Ux-300 X光光“ 析仪测试料
16、的有 (包:Pb,fiHg,flCd, Cr,Br),使 品合RoHS要 测试料的有 (包: Pb, Hg, Cd, Cr, Br),使 品合RoHS要 测试料的有 使 品合RoHS 我 用标准: IEC62321(XRF测试) 我 用标准: IEC62321(XRF测试 测试) 我 用标准 SS00259-Ver7标准(ICP测试) SS00259-Ver7标准(ICP测试) 标准(ICP测试4LED电性参数 电性参数LED电流与电fi 电电fi 一 后，向电流电fi”加而发光,不 的LED电fi电流特性 电fi 一 后，向电流电fi”加而发光,不 的LED电fi电流特性 不 LED电流与亮
17、度 电 亮度 LED在可使用的电流 内 发光亮度电流的”加而”强 LED在可使用的电流 内，发光亮度电流的”加而”强 在可使用的电流 内，LED电流与 度 电 度 LED在特 的电流下可承的 度 LED在特 的电流下可承的 度度对 度对LED的影 的 度的高,led光强 ,波长 变长,电fi 下 度的 led光强 波长 变长, 光强, 在 高亮度和功 LED器件及 件 不合理的currency1将导P/Ncurrency1的 度 在 高亮度和功 LED器件及 件,不合理的currency1将导P/Ncurrency1的 度 器件及 件, 高, 影到LED的性能、使用寿命和可 性 影 到LED的
18、性能 的性能、电流使用LED 电流使用电流使用时电fi性变化不 用 :用仪表 , 用 :用仪表 , 内容5LED使用注意事项 使用注意事项 LED lamp: : ， 要 放在通 的 ， ，LED要 放在通 的 ， 度在 5，对度在 要 放在通 的 度在23 对度在40在原包 件下3 70%,LED在原包 件下 个 内使用完为 佳，以 ” ，LED的包 , 在原包 件下 个 内使用完为 佳，以 ” ， 的包 后， 后，要 使用完LED SMD: : SMD 前 静电 包 先( 件:60 /6H 以), 后的 前 静电 包 先( 件: 以), 后的LED 在 前 静电 包 先 以 在 12小时内
19、用完, 用完的 保 ,在下次使用前 前面的 作 用於 小时内用完, 用完的 保,在下次使用前 前面的 作 小时内用完 保 作的 LED使用前 用 使用前用100度4小时以的 件 作的 使用前 用 度 小时以的 件 不要使用不 的化液体 LED，因可能 伤LED 表面， 至 体. ，因可能 伤 表面， 不要使用不 的化液体 表面 至 体. 有 要， 在 下 入 精 ， 有 要， 在 下 LED 入 精 ，时 在 之内 入 精 时 在1 之内”的 及脚位 在 点以下的部 时 不要向 外 内部加fi 脚 在接前 品在高 的 下 脚 切 不良， 品在高 的 下 脚 切 不良， 在 下 脚 切lamp接
20、 件 接 件接时,接点 体下至 要有 的 接完 后， 的 , 接时,接点 体下至 要有2 的 , 接完 后，用3-5 的时 让 的时 让 LED高 currency1到 下 高currency1到 下 在 以下5以内 在260C以下 以内 次接 以下 以内 1次接 在 以下5以内 次接. 性 的LED,不 在300C以下 以内 次接.接 一 以下 以内 1次接 接 一PCB性 的 性 的 , 要 时接 一LED 的 个导” 要 时接 一 部 入锡 或 后 矫位 接时在 ”被加的 下 不要对 体或”加任何fi 在 一个电路芯等部件和粘合混在一，使用粘合硬化时 在 在 一个电路芯等部件和粘合混在一
21、，使用粘合硬化时 在120C以 以 下，60以内 以内 说 说 接 度或时 控制不可能 体的透镜变 或者芯内部路导死SMD接 件 接 件人工接 1, 及锡丝选择:建议使用 25-30W 的 或者调 及选用 , 及锡丝选择: 的 或者调 及选用270 -190 -45 - 105 20min.(180sec.)20min Ta=25 IF(mA) 化 High Temperature 寿命试验 (Operation Seauence) 高 化 High Temperature Life Test Lamp 人 单 20 50 Ta=85 IF(mA) Lamp 人 单 10 30 Ta=85 高
22、 高HighTemp High Humidity 测试 (Envi- roment Sequence) 高 循Temperature Cycle 高储 High Temperature Storage 储 Low Temperature Storage Lamp 人 单10 30 IF(mA) 双 10 20 W 10 20 50cycles 1000hrs. 1000hrs. 0/60 0/60 0/60 168hrs.0/60 双 10 20 RH=85% W 10 20 168hrs. 0/10 双 20 30 W 20 30 1000hrs. 0/10 测试时 Test 测试时 Tes
23、t Hours 1次 10sec 3mins 20 cycles 数(Accept) 数(Accept)0/60 0/60 0/60 0/60-25 25 85 25 30min.5min.30min.5min Ta=100 Ta=-24 SMD信赖性 件 信赖性 件别(Type) 别(Type) 信赖性测试 (Dest- ructive Seauence) 测试项目(Test 测试项目(Test Item) 渗透(红墨水 验) currency1流Reflow Soldering 击Thermal shock 测试 件 (Test Condition) Ta=80 210 -270 -190
24、 -45 - 105 20min.(180sec.)20min Ta=25 IF(mA) 化 High Temperature NormalTOP 6Pin TOP 寿命试验 (OperationSeauence) Full color R 25 25 25 Ta=85 IF(mA) 高 化High Temperature Life TestNormalTOP 6Pin TOP Full color R 15 15 15 G 15 15 15 B 15 15 15 W 15 168hrs. 0/20 G 25 25 25 B 25 25 25 W 25 1000hrs. 0/20 测试时 Te
25、st 测试时 Test Hours 2H 5min 50cycles 数(Accept) 数(Accept) 0/60 0/60 0/60Ta=85 RH=85% IF(mA) 高 高High Temp High Humidity 测试 (Envi- roment Sequence) 高 循Temperature Cycle 高 储 High Temperature Storage 储 Low Temperature Storage NormalTOP 6Pin TOP Full color R 15 15 15 G 15 15 15 B 1515 15 100cycles 1000hrs. 1000hrs. 0/60 0/60 0/60 W 15 168hrs. 0/20-25 25 85 25 30min.5min.30min.5min Ta=100 Ta=-24 1
