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太阳能体硅电池原理及工艺流程介绍.ppt

1、东莞南玻光伏科技有限公司,太阳能体硅电池原理及工艺介绍,主要内容,一 光伏产业概述 二 太阳能电池物理初步介绍 三 体硅电池一般制造工艺流程 四 体硅电池的设计理念 五 总结,太阳电池发明人: (1954, Bell Lab)Daryl M. Chapin, Calvin S. Fuller, Gerald L. Pearson,1.1,概述太阳能电池历史,1.2,概述体硅电池产业产业链,2,太阳能电池物理初步介绍,半导体与晶体硅的基本特性 PN结介绍 体硅电池一般结构和发电原理,2.1 半导体与晶体硅的基本特性,固体按导电性能的高低可以分为:,它们的导电性能不同,是因为它们的能带结构不同。,

2、导体,导体,导体,半导体,绝缘体,Eg,Eg,Eg,2.1.1 导电类型与能带的关系图,在晶体硅中,原子按四面体系统组成晶体点阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相临的原子之间形成共价键,共用一对价电子。,2.1.2 Si的晶体结构,2.1.3 半导体的光吸收,光子能量小于带隙,光子不被吸收,导带,价带,光子能量等于带隙,2.1.3 半导体的光吸收,光子被吸收,同时产生自由电子-空穴对,导带,价带,2.1.3 半导体的光吸收,光子能量大于带隙,光子被吸收,同时产生自由电子-空穴对。 之后载流子振荡回到导带底和价带顶。 剩余能量转换为热能。,导带,价带,

3、2.1.4 Si晶体和GaAs在300K下的吸收系数和能量关系图,2.1.5 晶体Si是间接带半导体,带隙Eg=1.12 eV,2.1.4 吸收深度,SI基体,不同能量的光子吸收深度不同!,2.1.5 复合 recombination,带隙,导带,价带,复合类型:体复合、表面复合,2.2 半导体PN结介绍,半导体的类型:本征半导体、P型半导体、N型半导体 PN结的形成 PN结的电特性 PN结的应用,2.2.1 半导体的类型,1. 本征半导体:没有掺入任何杂质,. P型半导体,四价的本征半导体Si,掺入少量三价的杂质元素(如、Ga、n等)形成空穴型半导体,称 P 型半导体。,量子力学表明,这种掺

4、杂后多余的空穴的能级在禁带中紧靠满带处,ED10-2eV,极易产生空穴导电。,该能级称受主(acceptor)能级。,P型半导体,2.2.1 半导体的类型,3. N型半导体,四价的本征半导体 Si,掺入少量五价的杂质元素(如P、As等)形成电子型半导体,称 n 型半导体。,量子力学表明,这种掺杂后多余的电子的能级在禁带中紧靠空带处, ED10-2eV,极易形成电子导电。,该能级称为施主(donor)能级。,3. N型半导体,2.2.3 PN结的形成,在一块 P型半导体基片的一侧通过扩散或离子注入掺入较高浓度的施主杂质,由于杂质的补偿作用,该区就成为N型半导体。 此时这块半导体有一端是P型,一端

5、是N型,PN型的交界面称为PN结,N型的厚度也称为结深。,耗尽区,N型区,P型区,空穴,电子,PN结内电场形成过程,内电场!,2.3,体硅电池的一般结构和发电原理,2.3.1,体硅电池的一般结构,2.3.2,太阳能电池发电原理,V,N层,P层,背电场,减反射层,输出,3,太阳能电池工艺流程,3.1,一次清洗,清洗设备,去除硅片表面的机械损伤层。 对硅片的表面进行凹凸面(金字塔绒面)处理,增加光在太阳电池片表面的折射次数,利于太阳电池片对光的吸收,以达到电池片对太阳能价值的最大利用率。(NaOH制绒) 清除表面硅酸钠、氧化物、油污以及金属离子杂质(HF) (HCL),3.1.1 一次清洗的目的,

6、3.1.2 单晶硅清洗后的表面形貌,3.1.3 绒面结构可降低反射率,平坦的硅表面,通常反射率为30%,反射率可降至12%,插片,一次清洗机,甩干机,扩散,传递窗,3.1.4 清洗工艺操作流程,测试,货架,3.1.5 工艺辅材,去损伤层:NaOH溶液 制绒:NaOH溶液、异丙醇和硅酸钠 酸洗:HF酸、盐酸HCl、DI水,3.1.5 检验,外观检验: 目视:不能有碎片、裂纹、崩边等外观不良,颜色暗且均匀。 显微镜:微观绒面覆盖率85%以上,不能有花斑和水痕。 尺寸检验: 螺旋测微器:工序前后硅片厚度减少10m以上,单硅片厚度不能低于165m。 电子天平:前后重量差,判断腐蚀厚度(重量/28.8=

7、厚度) 电性能: 少子寿命测试仪:少子寿命(酸洗后少子寿命2us)。 光学性能(可能的话): 分光光度计:反射率光谱,3.2 扩散,扩散的目的:在p型晶体硅上进行N型扩散,形成PN结,它是半导体器件工作的“心脏”; 扩散方法:POCl3液体扩散源。,3.2.1 扩散的目的,P型衬底,通常的,掺杂浓度更大的区域称为发射极,掺杂浓度较小的区域成为基体。基体区域通常是吸收区域,因为发射极非常薄,大部分的光吸收发生在基体。,3.2.2 pn结形成,3.2.3 扩散间操作流程,刻蚀,传递窗,测试,净化存储柜,传递窗,装/卸片,装/卸片,TCA,工作台,外观检验: 1.色泽:表面颜色均匀,无偏磷酸滴落 目

8、视,放大镜 2.物理: 对崩边缺口等机械缺陷的控制 目视,放大镜 3.弯曲度 塞尺 电性能: 1.方块电阻检验 四探针 2.少子寿命 少子寿命测试仪,3.2.4 扩散后检验,POCl3是目前磷扩散用得较多的一种杂质源,瓶装。 无色透明液体,具有刺激性气味。如果纯度不高则呈红黄色。 比重为1.67,熔点2,沸点107,在潮湿空气中发烟。 POCl3很容易发生水解,POCl3极易挥发。,3.2.5 扩散辅材,3.3 等离子周边刻蚀,去除硅片周边的n层,防止短路。 工艺方法有等离子刻蚀和激光划边 我们采用等离子刻蚀机把周边n层刻蚀掉。,3.3.1 周边刻蚀的目的,3.3.2 等离子刻蚀过程,P型,N

9、型,插片,二次清洗机,甩干机,传递窗,测试,货架,传递窗,去边,去边,夹片、测试,二次清洗机,石英管清洗机,3.3.3 刻蚀工艺操作流程,刻蚀工位,镀膜间,外观检验: 不能有碎片、裂纹、崩边等外观不良 目视、放大镜 电性能检验: 硅片周边PN型判定 导电类型测试仪(冷热探针),3.3.4 刻蚀后检验,3.3.5 刻蚀工艺辅材CF4+O2 特种气体,3.4,二次清洗(去磷硅玻璃),扩散工艺会在在硅片表面形成一层含有磷元素的SiO2,称之为磷硅玻璃(PSG)。它会阻止光吸收,同时又是绝缘的。工艺上采用HF酸腐蚀,所以也称为去PSG。,3.4.1,二次清洗(去磷硅玻璃)的目的,插片,二次清洗机,甩干

10、机,传递窗,测试,货架,传递窗,去边,去边,夹片、测试,二次清洗机,石英管清洗机,二次清洗工位,镀膜间,3.4.2,二次清洗操作流程,3.4.3,二次清洗后检验,外观检验: 目视:不能有碎片、裂纹、崩边等外观不良,颜色暗且均匀;表面是否脱水。,3.4.4,二次清洗辅材 HF酸、DI水,氢氟酸是无色透明的液体,具有较弱的酸性、易挥发性和很强的腐蚀性。氢氟酸的一个很重要的特性是它能够溶解二氧化硅,因此不能装在玻璃瓶中。,3.5,PECVD镀减反射膜,3.5.1,设备结构示意图,3.5.2 光的基本理论,光的波动性、粒子性 光的传输:直线传输、反射、透射、干涉、衍射 光程d、光程差n*d 光的叠加:

11、相长干涉、相消干涉,3.5.3,减反射原理,一次反射R1,SiN,N-Si,n0,n1,ns,二次反射R2,目的: 通过调整薄膜厚度及折射率,使得两次反射产生相消干涉,即光程差为1/2波长,薄膜的厚度应该是1/4波长的光程。,装片,传递窗,测试,净化存储柜,传递窗,3.5.4,减反射工艺操作流程,载板柜,卸片,印刷,PECVD,3.5.5,镀膜后检验,外观检验: 不能有碎片、裂纹、崩边、颜色不均、色差等不良 目视、放大镜 减反层测试: 折射率、薄膜厚度80nm5% 椭偏仪 电性能测试: 少子寿命 少子寿命测试仪 光学测量(可能的话): 反射率光谱 分光光度计,3.5.6,镀膜工艺辅材,特种气体

12、: 硅烷SiH4、氨气NH3、氮气N2,3.6,印刷烧结,3.6.1 印刷烧结的目的,金属接触,收集载流子。 背面场,经烧结后形成的铝硅合金,提高转换效率。 采用丝网印刷技术。,3.6.2 印刷烧结工艺流程,工作台,印刷,烘干,印刷,烘干,印刷,烘干,工作台,工作台,烧结,测试分选,传递窗,工作台,测试台,3.6.3 印刷烧结后的电池片,3.6.3 印刷工艺辅材,一次印刷:银浆(银铝浆),作为背面电极(正极)。 二次印刷:铝浆,形成背电场。 三次印刷:银浆,作为正面电极(负极)。,3.7 测试分选,成品测试 根据功率进行分档,可同时测量以下电参数: 功率、短路电流、开路电压、最佳工作电流、最佳

13、工作电压、填充因子、串联电阻、并联电阻。,3.7.1 测试分选的目的,工作台,印刷,烘干,印刷,烘干,印刷,烘干,工作台,工作台,烧结,测试分选,传递窗,工作台,测试台,3.7.2 测试分选操作流程,3.7.3 成品检验,4 体硅电池的设计理念,光学特性 降低复合 电极设计 结构设计,如何降低光学损失? 减反射膜 表面质构化 材料厚度 光陷阱设计 背面反射,4.1 光学特性,如何降低复合损失? 复合导致的电流损失 复合导致的电压损失 表面复合:表面钝化、扩散工艺控制 体复合:材料质量、体钝化、背电场设计,5.2 降低复合,5.3 前栅线设计,如何串联电阻,降低栅线遮挡率? 体电阻 面电阻 发射极电阻 接触电阻 栅线图形设计,5 总结-体硅电池的一般工艺流程,全 文 完谢谢!,

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