1、超声检测系统综合性能测试试验目的：1）掌握仪器综合性能测试方法及测试流程。2）掌握探头综合性能测试方法。3）掌握系统综合性能测试方法。4）掌握熟知仪器设备的使用方法及过程中所注意的事项 试验系统：1） 模拟式超声检测仪 2）探头 3）藕合剂 4）尺子 5）CSK-IA 试块 6）IB 试块 7）DB-PZ20-2 平底孔试块【仪器综合性能测试】垂直线性： 实验步骤：1） 准备好试验过程中所需的仪器设备及器材。2） 将直探头放置 DB-PZ20-2 平底试块表面，将探头压在试块保持耦合稳定，移动扫查孔的反射回波。3） 调节衰减器是回波高度为 100%满屏，此时衰减应保留 30dB 余量，每次 2
2、dB 增量调节衰减器。4） 记录高度值，分析数据。计算出垂直线性误差 ，整理试验设备。 试验示意图：试验数据记录:dB 理论高度% 实际高度% 相对差0 100 100 02 79.4 80 0.64 63.1 64 0.96 50.1 50 -0.18 39.8 40 0.210 31.6 34 2.412 25.1 28 2.914 20.0 22 216 15.8 18 2.218 12.5 14 1.520 10.0 10 022 7.9 8 0.124 6.3 4 -2.326 5.0 2 -328 4.0 0 -430 3.2 0 -3.2计算及分析结果:根据计算垂直线性误差为 6
3、.9%小于 8% 所以符合JB/T10061-1999 的标准要求。动态范围：在上述垂直线性测试中，继续调解衰减器直至刚能辨认回波，总的衰减值即为动态范围，根据 JB/T10061-1999 标准要求动态范围应为 26 dB水平线性测试：试验步骤；1） 准备好试验过程中所需的仪器试块。2） 将直探头在 IB 试块上并耦合稳定。3） 节出 6 个底面回波后，将始波往左移，调节仪器依次使 B1 和 B6 的波高为 80%，第一次波对准时基线刻度 0，B6 对准时基线 100%.4） 然后依次调节 B2.B3.B4.B5.的波高为 80%刻度，别读取前沿分别与 20.40.60.80.的偏差 a2.
4、a3.a4.a5计算出水平线性.5） 结果分析。整理试验器材。试验示意图： 数据处理及结果分析：分析： JB/T10061-1999 标准要求水平线性误差应为小于 2%.根据此测试结果是符合标准要求的。电噪声将仪器的灵敏度和扫描范围调至最大，在无外界干扰的情况下，电噪声信号的平均幅度的满屏高的百分比所得电噪声小于 10%。【探头综合性能测试】前沿距离试验步骤：1） 准备好试验过程中所需要的仪器设备及测量工具。2） 用 K2 斜探头放置 CSK-IA 试块上并耦合稳定后。3） 向 R=100 圆弧前沿辐射声波，观察 R100 圆弧面的反射回波。4） 在保持探头声束轴线与试块侧面平行时移动探头直到
5、相应的反射回波达到最高。5） 用尺子量取探头前沿至试块边缘的距离，计算量取三次求平均值。试验示意图： 记录数据：结果分析:所测的前沿距离都在 913mm 之间，说明此探头性能符合标准要求。K 值测试试验步骤：1） 将 K2 探头放置相应的位置，耦合稳定。2） 在保持探头声束轴线与试块侧面平行时移动探头，直到相应的反射回波达到最高。3） 量取距离 L，则应根据测得有关距离，计算 K 值。（注意:要根据选用的不同公式计算）4） 测量三次求平均值，记录数据。5） 试验完成都整理仪器设备。试验示意图：试验数据：结果分析：根据测量的实际 K 值与理论 K 值比较，若相差极小，可视为符合要求。 （根据标准
6、）【 系统的综合性能测试】灵敏度余量直探头测试步骤：1） 选用试验过程中所需要的器材及测量工具。2） 仪器抑制于 0 或断开，其他调节取适当值。3） 将仪器的增益调制最大，调整衰减器，使电噪声电平达到 10%满刻度，设此时衰减读数为a04） 把直探头稳定耦合后在 DB-PZ20-2 的试块上仔细扫查找到平底孔的最大回波，调节衰减使回波调到 80%满刻度，舍此时衰减器读数a1 则检测系统灵敏度余量为 a=a1-a05） 记录数据，分析数据。6） 试验完成后整理试验设备。斜探头测试步骤：1) 选用试验过程中所需要的器材及测量工具。2)仪器抑制于 0 或断开，其他调节取适当值。3)将仪器的增益调制最
7、大，调整衰减器，使电噪声电平达到 10%满刻度，设此时衰减读数为 a04）把斜探头稳定耦合在 CSK-IB 试块仔细扫查R100 圆弧的最大回波，找到后将调解衰减器调整到 80%刻度，舍此时的衰减 a1 5）整理数据两次取值计算灵敏度余量a=a0-a17） 试验完成后整理器材测试示意图：直探头和斜探头灵敏度数据计算结果：分辨率直探头测试步骤:1) 仪器抑制至于 0 或断，调节适当值，直探头检测系统的远场分辨率在 CSK-IA 试块测试。2) 将探头压在试块上并耦合，移动探头找到 85mm和 91mm 声程的反射波并使两波高度相等。 （约为20%）3) 调节衰减器和增益使两波达到 80%，二者分贝数之差，即为直探头检测系统的分辨率。斜探头测试步骤：1）仪器抑制至于 0 或断，调节适当值，直探头检测系统的远场分辨率在 CSK-IA 试块测试2）将探头压在试块上并耦合，移动探头找到直径 50 和直径 44 圆孔的反射波并使两波的高度（约为 20%高度）3）调节增益衰减器使两波达到 80%高度，两次分贝差就是远场分辨率。4）记录数据，整理试验器材。试验示意图:数据记录；
